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Título: Monitoring the junction temperature of an IGBT through direct measurement using a fiber Bragg grating
Autor(es): Bazzo, João Paulo
Lukasievicz, Tiago
Vogt, Marcio
Oliveira, Valmir de
Kalinowsky, Hypolito Jose
Silva, Jean Carlos Cardozo da
Palavras-chave: Semicondutores - Junções
Fibras ópticas
Análise térmica
Detectores ópticos
Semiconductors - Junctions
Optical fibers
Thermal analysis
Optical detectors
Data do documento: 2011
Câmpus: Pato Branco
Citação: BAZZO, João Paulo et al. Monitoring the junction temperature of an IGBT through direct measurement using a fiber Bragg grating. In: INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL FIBER SENSORS, 21., 2011, Ottawa. Anais… Ottawa: Proceedings of SPIE, 2011.
Abstract: This paper proposes a new technique to monitor the junction temperature of an insulated gate bipolar transistor (IGBT) through direct measurement using an optical fiber sensor mounted on the chip structure. Some features of the sensor such as electromagnetic immunity, small size and fast response time allow the identification of temperature changes generated by the energy loss during device operation. In addition to the online monitoring of the junction temperature, results show the thermal characteristics of the IGBT, which can be used to develop an accurate model to simulate the heat generated during the device conduction and switching processes.
URI: http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/475
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