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http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/25674
Registro completo de metadados
Campo DC | Valor | Idioma |
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dc.creator | Narloch, Danielle Cristine | - |
dc.date.accessioned | 2021-08-05T18:35:33Z | - |
dc.date.available | 2021-08-05T18:35:33Z | - |
dc.date.issued | 2021-03-26 | - |
dc.identifier.citation | NARLOCH, Danielle Cristine. Análise elementar dos cosméticos: esmaltes de unha e argilas. 2021. Tese (Doutorado em Engenharia Elétrica e Informática Industrial) - Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2021. | pt_BR |
dc.identifier.uri | http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/25674 | - |
dc.description.abstract | In Brazil, The Brazilian Health Regulatory Agency (ANVISA) defines cosmetics as being composed of natural or synthetic substances, which are applied to the external surface of the human body. In the Resolution RDC No. 83 of 28 June 2016 there are 1373 prohibited substances in personal hygiene products, cosmetics and perfumes, based on the list of prohibited substances in the European Union document. Elements such as Cl, Ni, As, Be, Cd, Cr, I, P, Pb, Hg, Se, Zr, Co, Te, Tl and radioactive substances are present in the list. Canadian legislation establishes that toxic elements such as Pb, As, Cd, Hg and Sb should not be used as ingredients. The objective of this work was to characterize and quantify the chemical elements present in nail polishes and cosmetic clays by means of some instrumental analytical techniques. Measurements of the samples with the equipment of EDXRF of AMPTEK were performed. This equipment model MINI-X contains two detectors silicon drift, model 123SDD. Other analyzes of these samples were carried out using the Scanning Electron Microscope (SEM) together Dispersive Energy Spectrometer (DES), both Zeiss brand, EVO MA 15 model and Shimadzu XRD 7000 X-Ray Diffractometer (XRD). In addition to these techniques some clays were subjected to gamma spectrometry analysis at the Nuclear and Energy Research Institute (IPEN) to verify the radionuclides present. Obtained results indicated the presence of the following elements in the nail polishes analyzed: Mg, Al, P, Si, S, Cl, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Ba and Bi. The cosmetic clays presented the Mg, Al, P, As, Se, Ba, Co, Si, S, Cl, K, Ca, Ti, Mn, Sb, Fe, Ni, Cu, Zn, Rb, Zr, Sr, Th, U, Pb and Ra elements. Some detected elements are prohibited and restrictive according to ANVISA and international legislation such as As, Cl, P, Cr, Sb, Ni, Zr and Pb. The bioaccumulation of these substances in the body can cause metabolic disorders. | pt_BR |
dc.description.sponsorship | Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES) | pt_BR |
dc.language | por | pt_BR |
dc.publisher | Universidade Tecnológica Federal do Paraná | pt_BR |
dc.rights | openAccess | pt_BR |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/ | pt_BR |
dc.subject | Cosméticos - Composição | pt_BR |
dc.subject | Raios X - Difração | pt_BR |
dc.subject | Espectrometria de raio gama | pt_BR |
dc.subject | Metais - Toxicologia | pt_BR |
dc.subject | Microscopia eletrônica | pt_BR |
dc.subject | Cosméticos - Legislação | pt_BR |
dc.subject | Cosmetics - Composition | pt_BR |
dc.subject | X-rays - Diffraction | pt_BR |
dc.subject | Gamma ray spectrometry | pt_BR |
dc.subject | Metals - Toxicology | pt_BR |
dc.subject | Electron microscopy | pt_BR |
dc.subject | Cosmetics - Law and legislation | pt_BR |
dc.title | Análise elementar dos cosméticos: esmaltes de unha e argilas | pt_BR |
dc.title.alternative | Elementary analysis of cosmetics: nail polishes and clays | pt_BR |
dc.type | doctoralThesis | pt_BR |
dc.description.resumo | No Brasil, a Agência Nacional de Vigilância Sanitária (ANVISA) define os cosméticos como sendo produtos compostos por substâncias naturais ou sintéticas, de aplicação na superfície externa do corpo. Na Resolução RDC nº 83, de junho de 2016, há 1373 substâncias proibidas em produtos de higiene pessoal, cosméticos e perfumes, com base na lista de substâncias proibidas no documento da União Europeia. Elementos como Cl, Ni, As, Be, Cd, Cr, I, P, Pb, Hg, Se, Zr, Co, Te, Tl e substâncias radioativas estão presentes na lista. A legislação canadense estabelece que os elementos tóxicos como Pb, As, Cd, Hg e Sb não devem ser utilizadas como ingredientes. O objetivo deste trabalho foi caracterizar e quantificar os elementos químicos presentes em esmaltes de unha e argilas cosméticas por meio de algumas técnicas analíticas instrumentais. A metodologia aplicada consistiu nas medidas das amostras com diversas técnicas de caracterização elementar. O equipamento de EDXRF utilizado é composto por tubo de raios X modelo MINI-X e detector silicon drift, modelo 123SDD. Outras análises dessas amostras foram realizadas com o Microscópio Eletrônico de Varredura (MEV) acoplado ao Espectrômetro de Energia Dispersiva (EDS) da marca Zeiss, modelo EVO MA 15 e com o Difratômetro de Raios X da Shimadzu XRD 7000. Além dessas técnicas, as argilas foram submetidas às análises com espectrometria gama e ativação neutrônica, para verificar os radionuclídeos presentes. Os resultados obtidos indicam a presença dos seguintes elementos nos esmaltes analisados: Mg, Al, P, Si, S, Cl, Ca, Ti, Cr, Mn, Fe, Ni, Cu, Zn, Ba e Bi. As argilas cosméticas apresentaram os elementos Mg, Al, P, As, Se, Ba, Co, Si, S, Cl, K, Ca, Ti, Mn, Sb, Fe, Ni, Cu, Zn, Rb, Zr, Sr, Th, U, Pb e Ra. Alguns elementos encontrados, como As, Cl, P, Cr, Sb, Ni, Zr e Pb são proibidos ou restritivos segundo a legislação da ANVISA e as legislações internacionais. A bioacumulação dessas substâncias no organismo pode ocasionar distúrbios metabólicos. | pt_BR |
dc.degree.local | Curitiba | pt_BR |
dc.publisher.local | Curitiba | pt_BR |
dc.creator.ID | https://orcid.org/0000-0003-2644-0453 | pt_BR |
dc.creator.Lattes | http://lattes.cnpq.br/9697812759634961 | pt_BR |
dc.contributor.advisor1 | Paschuk, Sergei Anatolyevich | - |
dc.contributor.advisor1ID | https://orcid.org/0000-0001-5125-0163 | pt_BR |
dc.contributor.advisor1Lattes | http://lattes.cnpq.br/5290164798310287 | pt_BR |
dc.contributor.referee1 | Correa, Janine Nicolosi | - |
dc.contributor.referee1ID | https://orcid.org/0000-0001-9692-7182 | pt_BR |
dc.contributor.referee1Lattes | http://lattes.cnpq.br/0937029113190458 | pt_BR |
dc.contributor.referee2 | Martins, Lucia Regina Rocha | - |
dc.contributor.referee2ID | https://orcid.org/0000-0002-9018-7176 | pt_BR |
dc.contributor.referee2Lattes | http://lattes.cnpq.br/0301804822998646 | pt_BR |
dc.contributor.referee3 | Anjos, Marcelino Jose dos | - |
dc.contributor.referee3Lattes | http://lattes.cnpq.br/8175635608970623 | pt_BR |
dc.contributor.referee4 | Paschuk, Sergei Anatolyevich | - |
dc.contributor.referee4ID | https://orcid.org/0000-0001-5125-0163 | pt_BR |
dc.contributor.referee4Lattes | http://lattes.cnpq.br/5290164798310287 | pt_BR |
dc.contributor.referee5 | Denyak, Valeriy | - |
dc.contributor.referee5ID | https://orcid.org/0000-0001-7238-841X | pt_BR |
dc.contributor.referee5Lattes | http://lattes.cnpq.br/9723527574588682 | pt_BR |
dc.publisher.country | Brasil | pt_BR |
dc.publisher.program | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica e Informática Industrial | pt_BR |
dc.publisher.initials | UTFPR | pt_BR |
dc.subject.cnpq | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA BIOMEDICA | pt_BR |
dc.subject.capes | Engenharia Elétrica | pt_BR |
Aparece nas coleções: | CT - Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica e Informática Industrial |
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Arquivo | Descrição | Tamanho | Formato | |
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