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http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/29763| Título: | Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V |
| Autor(es): | Fabrício Filho, João Felzmann, Isaías Bittencourt Wanner, Lucas Francisco |
| Palavras-chave: | Sistemas embarcados (Computadores) Energia - Consumo Gerenciamento de memória (Computação) Embedded computer systems Energy consumption Memory Management (Computer science) |
| Data do documento: | 19-Ago-2020 |
| Câmpus: | Campo Mourao |
| Citação: | FABRÍCIO FILHO, João; FELZMANN, Isaías Bittencourt; WANNER, Lucas Francisco. Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V. In: ESCOLA REGIONAL DE ALTO DESEMPENHO DE SÃO PAULO, 11., 2020, Evento Online. Anais [...]. Porto Alegre: Sociedade Brasileira de Computação, 2020, p. 58-61. Disponível em: https://sol.sbc.org.br/index.php/eradsp/article/view/16886. Acesso em: 24 nov. 2021. |
| Resumo: | Arquiteturas que implementam o conjunto de instruções RISC-V são adequadas para o contexto de sistemas embarcados. A demanda por menor consumo energético e maior desempenho nesse contexto é crescente, e a aproximação de elementos de memória tem potencial para alcançar ambos os benefícios. Contudo, a sensibilidade a erros de cada aplicação pode impedir a obtenção de maiores benefícios, por meio de quebras de execução ou menor qualidade dos resultados. Neste trabalho, propomos a avaliação da sensibilidade de aplicações a falhas em dados armazenados em memória na arquitetura RISC-V. Expondo toda a memória de dados a um modelo de erro em um simulador, é possível verificar a correlação entre o aumento das quebras de execução e a diminuição da qualidade dos resultados. Para um requisito de qualidade de 90%, as 3 aplicações avaliadas toleraram diferentes níveis de aproximação em escala logarítmica, chegando na ordem da taxa de erro de 10−7. |
| URI: | http://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/29763 |
| Aparece nas coleções: | PCS - Artigos |
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