1. Repositório Institucional da Universidade Tecnológica Federal do Paraná (RIUT)
  2. ESP - Cursos de Pós-Graduação Lato-Sensu (Especializações)
  3. TCCE - Trabalho de Conclusão de Curso de Especialização
  4. Curitiba
  5. CT - Engenharia da Confiabilidade
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dc.creatorAlmeida, Lucas Toledo de
dc.date.accessioned2020-11-23T11:59:49Z-
dc.date.available2020-11-23T11:59:49Z-
dc.date.issued2016-04-25
dc.identifier.citationALMEIDA, Lucas Toledo. Análise de vida acelerada em diodos emissores de luz aplicados em medidores eletrônicos de energia elétrica. 2016. 63 f. Trabalho de Conclusão de Curso (Curso de Especialização em Engenharia da Confiabilidade) – Universidade Tecnológica Federal do Paraná, Curitiba, 2016.pt_BR
dc.identifier.urihttp://repositorio.utfpr.edu.br/jspui/handle/1/18680-
dc.description.abstractThis paper presents a study of Accelerated Life Testing to two suppliers of electronic components used in electricity meters. The rated component is the Light Emitting Diode (LED) and the main objective is the statistical analysis of test results after the application of temperature and moisture stimuli in several samples of LEDs. Finally, replacement of currently approved by a supplier that has higher performance and lower cost is proposed. It will be used as a reference standard NBR 16078: 2012.pt_BR
dc.languageporpt_BR
dc.publisherUniversidade Tecnológica Federal do Paranápt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectConfiabilidade (Engenharia)pt_BR
dc.subjectDiodos emissores de luzpt_BR
dc.subjectMedidas elétricaspt_BR
dc.subjectSoftware - Confiabilidadept_BR
dc.subjectReliability (Engineering)pt_BR
dc.subjectLight emitting diodespt_BR
dc.subjectElectric measurementspt_BR
dc.subjectComputer software - Reliabilitypt_BR
dc.titleAnálise de vida acelerada em diodos emissores de luz aplicados em medidores eletrônicos de energia elétricapt_BR
dc.title.alternativeAccelerated life analysis in light-emitting diodes applied in electronic meters of electricitypt_BR
dc.typebachelorThesispt_BR
dc.description.resumoEsta monografia apresenta um estudo de Ensaios Acelerados de Vida para dois fornecedores de componentes eletrônicos aplicados em medidores de energia elétrica. O componente avaliado é o Diodo Emissor de Luz (LED) e o principal objetivo é a análise estatística dos resultados dos ensaios após a aplicação de estímulos de temperatura e umidade em diversas amostras de LEDs. Por fim, será proposta a substituição do fornecedor atualmente homologado por um que apresenta maior rendimento e menor custo. Será utilizada como referencia a norma NBR 16078:2012.pt_BR
dc.degree.localCuritibapt_BR
dc.publisher.localCuritibapt_BR
dc.contributor.advisor1Rigoni, Emerson
dc.contributor.advisor-co1Spanó, Cláudio Caiani
dc.contributor.referee1Rigoni, Emerson
dc.contributor.referee2Mariano, Carlos Henrique
dc.contributor.referee3Rodrigues, Marcelo
dc.publisher.countryBrasilpt_BR
dc.publisher.programCurso de Especialização em Engenharia da Confiabilidadept_BR
dc.publisher.initialsUTFPRpt_BR
dc.subject.cnpqCNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE PRODUCAOpt_BR
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