Navegando por Autor Bicalho, André Gouthier
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| Câmpus | Programa/Curso | Data do documento | Título | Autor(es) |
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| Curitiba | Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica e Informática Industrial | 29-Nov-2024 | Um método semi-supervisionado baseado em GAN para detecção e classificação de defeitos em soldas | Bicalho, André Gouthier |